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对不起,电容器6.3V 1000uf,通常使用万用表(数字

 点击:次  发布日期:2019-01-29 12:24    发布人:best365体育在线

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万用表:电容器电容器是最常用的电子元件之一。
电容器电路的形状和符号如图所示。
电容器的一般文本符号是“C”。
电容器主要由金属电极,介电层和电极电缆组成,两个电极相互绝缘。
因此,它具有“交叉链接通信”的基本功能。
使用数字万用表来检测电容器可以如下进行。
首先,电容文件直接检测到某些数字万用表具有测量电容的功能,其范围分为2000p,20n,200n,2μ和20μ文件。
在测量过程中,您可以将放电电容的两个引脚直接插入电路板上的Cx连接器,选择合适的范围,然后读取屏幕上的数据。
2000p文件,适用于测量小于2000pF的电容。适用于20n档,2000pF~20nF的静电容量测量。它适用于测量200 n档,20 nF?200 nF的电容。适用于2μF,200 nF?2μFC的电容测量。它适用于测量20μ,2μF?20μF的电容。
一些型号的数字万用表(如DT 890 B +)在测量<50 pF的小容量电容时发现误差很大。测量20 pF或更低电容的参考值很少。
在这种情况下,可以通过串行方法测量小容量电容器。
方法如下。首先找到一个大约220 pF的电容,用数字万用表测量原始电容C1,然后用一个小电容器测量总电容C2并行测试然后C2差异就是测试小型冷凝器的容量。
使用这种方法测量1 - 20 pF的小电容是非常准确的。
接下来,通过电阻文件检测实际测试。也可以使用数字万用表观察电容器充电过程。实际上,会议的数字张力反映了充电电压的变化。
如果数字万用表的测量速度是每秒n次,您可以看到n个观察值在顺序和独立地增加,同时观察电容器的充电过程。
根据数字万用表的这种可视化功能,可以检测电容器质量和估计的电容。
以下是使用数字万用表电阻文件检测电容器的方法。无静电容量文件的设备非常方便。
该方法适用于θ测量。
大容量电容器,范围从1μF到几千微法拉。
1.测量操作方法是图5-11(a)所示的方法。数字万用表标记在适当的电阻文件中。红色和黑色测试引线与两个电容器极Cx分开。屏幕值从“000”的开头逐渐添加,直到显示溢出符号“1”。
当连续显示“000”时,显示电容器的内部短路,如果连续显示溢出,则电容器的内部极可能会打开并且所选的电阻文件是这是不合适的。
检查电解电容器时需要注意。红色测试笔(带正电荷)连接到电容器的正电极,黑色测试笔连接到电容器的负电极。
-------------------------------------------------------------------------------- 2.测量原理显示了带电阻文件的电容器的测量原理。图5-11(b)
在测量期间,正电源充电电容器Cx要测量体验规范电阻R0,当第一负载被施加,因为它是“CC = 0”,“000”被显示。
Vc越大,显示值越大。
当Vc = 2 VR时,仪表首先显示溢出符号“1”。
充电时间t是显示值从“000”变为溢出所需的时间,可以用石英钟测量。
3.估算使用DT830数字万用表测量的电容数据并估算0。对于容量从1μF到几千微法的电容器,可根据表5-1选择电阻文件。可测量的容量范围和相应的充电时间列于表中。
表中显示的数据也是其他型号数字万用表的参考值。
选择电阻范围的标准是在容量小时使用高强度齿轮,在容量大时使用低阻齿轮。
当估计具有高电阻锉的大容量电容器时,充电过程非常慢,因此测量时间持续很长时间。当使用低电阻文件测试小容量电容器时,由于极短的充电时间,仪表会持续显示溢出,并且看不到变化过程。
第三,使用直流数字万用表电压检测电容实际上是一种间接测量方法,这种方法可以测量220 pF?1μF的小容量电容,它可以准确测量电容器漏电流。
1.测量方法和测量原理测量电路如图5-12所示。E是外部电路。
5V电池。
将数字万用表指向DC 2 V,将红色指示器指向要测量的电容器Cx的一个电极,将黑色指示器指向电池的负极。
2V齿轮的输入电阻为RIN =10MΩ。
当电源接通时,电池E接收Cx的负载RIN并且建立起始电压Vc。
Vc和加载时间t之间的关系在这里。由于RIN两端的电压是VIN表的输入电压,因此RIN实际上具有采样电阻的功能。
显然,VIN(T)= E - VC(吨)= EEXP( - T / RINCx)(5-2)在图5-13示出了输入电压Vin(t)和负载电压Vc(t)的。改变测量的电容曲线。
如您所见,改变VIN(t)和Vc(t)的过程恰恰相反。VIN(t)的变化曲线随着时间的推移而减小,Vc(t)随时间增加。
尽管该仪器显示了VIN-(t)的变化过程,但它间接反映了被测Cx电容器的充电过程。
在测试中,假设Cx打开(无容量),显示值始终为“000”。假设Cx内部短路,显示的值始终是电池电压E,并且不会随时间变化。
---------------------------------------------------------------------------------等式(5-2)表明当电路接通时,t = 0,VIN= E,数字万用表将开始由VC(t)的长度,以显示电池电压的值,然后,VIN(t)被逐渐降低到VIN = 0V,Cx的加载过程完成。不仅测试220 pF的?1μF的小容量电容器使用数字万用表电压检测用电容器,所以也可以测量在同一时间的电容器的漏电流。
如果测量的电容器泄漏电流为ID且仪表开头显示的固定值为VD(单位为V),则变为2。使用1μF/ 160 V和DT 830数字万用表的2 VDC文件(RIN =10MΩ)。
连接电路如图5-12所示。
开始时,仪表上显示1。
当它达到543V时,屏幕值在大约2分钟内逐渐减小,并且屏幕值被设置为0。
003V。
基于此,获得了被测电容器的漏电流,待测电容器的漏电流仅为零。
3nA显示质量好。
例2:被测电容为零。
聚酯电容器222μF/ 63V测量方法与实施例1中的相同。
由于电容器的容量小,VIN(t)在测量期间急剧下降,并且在约3秒后屏幕值变为零。
002V。
将该值代入等式(5-3),泄漏电流计算为零。
2 nA。
3.需要注意的事项(1)测量前,需要将电容器的两个引脚短路并放电。否则,您可以观察阅读的阅读过程。
(2)为避免跳跃时间,请勿在测量过程中触摸电容器的电极。
(3)在测量过程中,VIN(t)的值呈指数变化,最初急剧下降。随着时间的推移,减少的速度减慢。如果电容器CX的待测试的容量小于几千皮法,也用于测量仪表的速度慢,来不及反映初始电压值降低的VIN(t)的早期启动。仪表显示值开始低于电池E指示值的电压
(4)当测量电容器Cx大于1μF时,可以使用电阻文件测量它以缩短测量时间。
但是,如果被测电容器的电容小于200 pF,测量值会暂时改变,因此很难观察到充电过程。--------------------------------------------------------------------------------首先,使用蜂鸣器文件快速检测数字万用表的蜂鸣器文件可以测试电解电容的质量好坏。
测量方法如图5-14所示。
在蜂鸣器文件中标记数字万用表,并使用两根测试引线来区分要测试的Cx电容的两个引脚。如果听到短促的哔声,声音将停止并显示溢出符号“1”。
接下来,再次测量两个测试引线。蜂鸣器再次发出蜂鸣声,并在开头显示溢出符号“1”。这表明所测量的电解电容基本上是正常的。
此时,您可以标记20MΩ或200MΩ的高电阻文件来测量电容器的漏电阻,您可以判断它是好还是坏。
上述测量过程的原理如下。当测试刚刚开始时,仪表的负载电流大,为Cx。这与路线相同,因此蜂鸣器发出哔哔声。
随着电容器的电压不时升高,充电电流迅速减小,因此蜂鸣器不会首先振铃。
在测试期间,蜂鸣器发出蜂鸣声并指示电解电容器已导致内部短路。如果您反复测量仪表,蜂鸣器不会继续响铃,并且仪表上始终显示“1”。这表明被测电容器已打开或容量已耗尽。
其次,数字万用表和用于测量的比20MyuF以上的静电容量的数字万用表,电容文件的最大值是20MyuF,有时不能满足它的测量要求。
为此,我们可以使用数字万用表电容表使用以下简单方法测量大于20μF的电容,测量数千微法的电容你可以做到。
以这种方式测量大容量电容器时,无需更改数字万用表的原始电路。
该方法的测量原理基于两个串联的电容器,其公式为C string = C1C2 /(C1 + C2)。
由于两个具有不同电容的电容器串联连接,串联连接后的总电容小于小电容电容器的电容。因此,所测试的电容器的容量超过20 .mu.F,仅一个电容器是小于20 .mu.F,可以直接串联用数字万用表测量连接的电容器。
根据两个电容器公式的系列,很容易导出C1 =链C2C /(链C2-C)。利用该公式,可以计算测量电容器的电容值。
以测试用例为例,显示使用此公式的详细方法。
被测器件是标称容量为220μF的电解电容,设置为C1。选择标称值为10μF的电解电容作为C2,并使用20μF数字万用表电容测量该电容的实际值。
5μF,将这两个电容串联后,C链测量为9。
09μF
C2 = 9。
5μF,链C = 9。
当式中取代09μF时,C1 =链C2C /(链C2-C)= 9。
59
09 /(9。
5-9。
09)≈211(μF)C2无论选择多少电容,都必须在小于20μF的前提下选择电容较大的电容,并将公式中的C2替换为原始测量值。它是标称值,可以减少错误。两个电容器串联连接,由数字万用表测量。由于电容器本身的电容误差和测量误差,只有测量值和计算值相似,即被测电容器C1是好的,C1可以根据下式计算:实测值实用能力|参考信息| J-GLOBAL科学技术综合链接中心